[École thématique] ASTER’X

Objectifs

De nombreux moyens analytiques non-destructifs utilisant les rayons X sont à disposition des chercheurs, qu’ils soient installés sur de grands instruments ou sur des sources plus compactes de laboratoire. Ils permettent de sonder les échantillons depuis les niveaux électroniques et atomiques d’éléments cibles, jusqu’à les imager en 3D avec une résolution allant du nanomètre au micromètre et d’en connaître leur spéciation. Ces sources de rayons X sont de plus en plus performantes. Le nouvel anneau de stockage de l’ESRF permet maintenant aux utilisateurs de travailler avec des faisceaux de photons plus brillants et de très grande cohérence. Les nouvelles sources de laboratoire associées à des dispositifs de focalisation permettent aujourd’hui d’avoir des tailles de faisceau inférieures à la centaine de nm. En parallèle, de nouvelles méthodologies d’analyse associées se développent rapidement, gagnent en précision, que ce soit aux niveaux des possibilités de mesure ou des outils de calculs ou de simulations s’y rapportant.

Cette école thématique va permettre de former des chercheurs utilisateurs de moyens analytiques utilisant les rayons X, tout en favorisant les échanges entre différentes communautés. Elle va se focaliser sur les spectroscopies d’absorption X, d’émission X et l’imagerie X (tomographie et ptychographie). Ces techniques d’analyse multi-échelles seront illustrées par des exemples dans les domaines des sciences de la Terre et de l’environnement, de la chimie, de la physique des matériaux…

Cette école s’appuie principalement sur l’expertise des équipes en charge des instruments FAME & FAME-UHD (OSUG et Institut Néel, Grenoble), des micro- et nanotomographes de la plateforme MatriX (CEREGE, Aix en Provence).

►La date limite de demande d’inscription fixée au 8 octobre 2021. Télécharger le formulaire d’inscription